Pracownicy

prof. dr hab. Aleksy Patryn

Politechnika Koszalińska
Wydział Elektroniki i Informatyki
Katedra Elektroniki
ul. Śniadeckich 2, pok. 301A, 75-453 Koszalin
tel. +48 94 3478 725
email: aleksy.patryn[at]tu.koszalin.pl
ORCID: 0000-0002-5507-6833


h-index: 10 l.publikacji: 45
wg. Scopus

Pełnione funkcje:

Aktualne:
[1] Członek Rady Wydziału
[2] Członek Rady Naukowej dyscypliny Automatyka, Elektronika i Elektrotechnika
[3] Przewodniczący Komitetu Redakcyjnego Zeszytów Naukowych Wydziału Elektroniki i Informatyki
Wcześniejsze:
[1] Prodziekan do spraw nauki - w latach 2008 - 2016

Aktywność naukowa

Ostatnie publikacje (wg. Scopus):
[1] Rasool S.,Saritha K.,Reddy K.T.R.,Bychto L.,Patryn A.,Malinski M.,Tivanov M.S.,Gremenok V.F., Optoelectronic properties of In2S3 thin films measured using surface photovoltage spectroscopy, 2019, Materials Research Express, p.
[2] Rasool S.,Saritha K.,Reddy K.T.R.,Tivanov M.S.,Trofimova A.V.,Tikoto S.E.,Bychto L.,Patryn A.,Malinski M.,Gremenok V.F., Effect of annealing on the physical properties of thermally evaporated In2S3 thin films, 2019, Current Applied Physics, p. 108-113
[3] Bychto L.,Malinski M.,Patryn A.,Tivanov M.,Gremenok V., Determination of the optical absorption spectra of thin layers from their photoacoustic spectra, 2018, Optical Materials, p. 196-199
[4] Rasool S.,Saritha K.,Reddy K.T.R.,Reddy K.R.,Bychto L.,Patryn A.,Malinski M.,Tivanov M.S.,Gremenok V.F., Optical properties of thermally evaporated In2S3 thin films measured using photoacoustic spectroscopy, 2017, Materials Science in Semiconductor Processing, p. 4-8
[5] Gremenok V.F.,Reddy K.T.R.,Tivanov M.S.,Patryn A., Effect of annealing on the structure of thermal evaporated In2S3 thin films Wpływ obróbki temperaturowej na termicznie naparowane cienkie warstwy In2S3, 2017, Przeglad Elektrotechniczny, p. 89-91
[6] Andriyevsky B.,Janke W.,Patryn A.,Malinski M.,Stadnyk V.,Romanyuk M., Ab initio molecular dynamics calculations of heat conductivity for silicon related materials Obliczenia z pierwszych zasad przewodności cieplnej materiałów na bazie krzemu metodą dynamiki molekularnej, 2017, Przeglad Elektrotechniczny, p. 61-63
[7] Tivanov M.,Kaputskaya I.,Patryn A.,Saad A.,Survilo L.,Ostretsov E., Determination of CdSxSe1-x thick films optical properties from reflection spectra Wyznaczanie parametrów optycznych grubych warstw CdSxSe1-x z analizy widma odbicia, 2016, Przeglad Elektrotechniczny, p. 88-90
[8] Tivanov M.,Moskalev A.,Patryn A., Determination of cu(In,ga)(s,se)2–solar cell parameters from quantum efficiency spectra Wyznaczanie parametrów Cu(In,Ga)(S,Se)2 ogniw słonecznych z widma wydajności kwantowej, 2015, Przeglad Elektrotechniczny, p. 188-190
[9] Andriyevsky B.,Kurlyak V.Yu.,Stadnyk V.Yo.,Romanyuk M.O.,Patryn A., Electronic band structure and optical properties of ferroelectric TGS, TGSe and TGFB crystals, 2015, Materials Chemistry and Physics, p. 787-793
[10] Bychto L.,Patryn A., Modulated free-carrier absorption in silicon - a spectroscopy approach, 2015, Physica Status Solidi (B) Basic Research, p. 1311-1318
więcej ...

Aktywność na Wydziale:

19.11.2019Seminarium naukowe
02.10.2018Wyróżnienia Stowarzyszenia Elektryków Polskich dla promotorów
28.09.2017Dzień otwarty Politechniki

Komisje:

[1]Komisja ds. Studiów Doktoranckich
[2]Komisja do przeprowadzania czynności w postępowaniu w sprawie nadania stopnia doktora w dziedzinie nauk inżynieryjno-technicznych w dyscyplinie Automatyka, Elektronika i Elektrotechnika
[3]Komisja do analizy jakości dyplomowania, analizy i zatwierdzania tematów prac dyplomowych dla kierunku Elektronika i Telekomunikacja

Politechnika Koszalińska
Wydział Elektroniki i Informatyki
ul. Śniadeckich 2
75-453 Koszalin
sekretariat@weii.tu.koszalin.pl
tel. 94 347 87 06
fax. 94 343 34 79
© 1999-2022 CIWEiI PK
Administrator: ciwe@weii.tu.koszalin.pl
Wszelkie prawa zastrzeżone